LGµð½ºÇ÷¹ÀÌ(´ëÇ¥ ÇÑ»ó¹ü)°¡ OLED Á¶¸í¿¡ ´ëÇÑ ¾ÈÀü±Ô°Ý ÀÎÁõÀ» ȹµæ, À̸¦ ÀÌ¿ëÇÑ Á¶¸í»ç¾÷À» °ÈÅ°·Î Çß´Ù.
¼¼°èÀû ½ÃÇèÀÎÁõ±â°üÀÎ TUV SUD·ÎºÎÅÍ Á¦Á¶»ç ½ÃÇè¼Ò Áß ¼¼°è ÃÖÃÊ·Î OLEDÁ¶¸í ¾ÈÀü ±Ô°Ý ½ÃÇèÀ» ÀÚüÀûÀ¸·Î ¼öÇàÇÒ ¼ö ÀÖ´Â ÀÎÁõÀ» ȹµæÇÔÀ¸·Î½á ÀÎÁõ¿¡ ¼Ò¿äµÇ´Â ½Ã°£°ú ºñ¿ëÀ» Å©°Ô Àý°¨ÇÒ ¼ö ÀÖÀ» Àü¸ÁÀÌ´Ù.
ÀÚüÀÎÁõ ¼öÇà ÀÚ°ÝȹµæÀº LGµð½ºÇ÷¹ÀÌÀÇ ¾ÈÀü °ËÁõ ±â¼ú·Â°ú ÀÚü ½ÃÇè¼ÒÀÇ ½Å·Úµµ¸¦ ±¹Á¦ÀûÀ¸·Î ÀÎÁ¤¹Þ¾Ò´Ù´Â °ÍÀ» ÀǹÌÇÏ´Â °ÍÀ¸·Î Å×½ºÆ®´Â ³»ºÎ´Ü¶ô ȸ·Î Å×½ºÆ®(Internal Short Circuit Test)¿Í °áÇÔ Á¶°Ç Å×½ºÆ®(Fault Condition Test), ¿ ÀÀ·Â Å×½ºÆ®(Thermal Stress Test) µî ÃÑ 10°³ Ç׸ñÀ¸·Î ÀÌ·ç¾îÁ® ÀÖ´Ù.
LGµð½ºÇ÷¹ÀÌÀÇ OLEDÁ¶¸íÀº À¯±â¹°ÀÇ ÀÚü ¹ß±¤ Ư¼ºÀ» È°¿ëÇÏ´Â Á¦Ç°À¸·Î Àü·Â ¼Ò¸ð¿Í ¹ß¿ÀÌ Àû°í ģȯ°æÀûÀ̸ç ÀÚ¿¬±¤¿¡ °¡±î¿ö ´«ÀÇ ÇǷεµ¸¦ ÃÖ¼ÒÈ ½ÃÄÑÁÖ´Â ÇÁ¸®¹Ì¾ö ±¤¿øÀ¸·Î ¾ã°í °¡º±´Ù´Â ±¸Á¶ÀûÀΠƯ¼ºÀ¸·Î Åõ¸í, Ç÷º½Ãºí ±¸Çö µî µðÀÚÀÎ ÀÚÀ¯µµ°¡ ¸Å¿ì ¿ì¼öÇØ ¼¼·ÃµÈ ½Ç³» ÀÎÅ׸®¾î ±¸Çö¿¡µµ È°¿ëµÇ°í ÀÖ´Ù.
Áö³ÇØ ¼¼°è ÃÖ°íÀÇ Ä£È¯°æ ÀÎÁõ±â°üÀÎ SGSÞä·ÎºÎÅÍ TV¿ë µð½ºÇ÷¹ÀÌ¿¡ ´ëÇÑ Ä£È¯°æ ÀÎÁõÀ» ¹ÞÀº¹Ù ÀÖÀ¸¸ç 2016³â¿¡´Â TUV SUD¿Í °øµ¿À¸·Î Â÷·®¿ë µð½ºÇ÷¹ÀÌ ´ë»ó ³¿¬ ÀÎÁõ ÇÁ·Î±×·¥À» °³¹ßÇÏ´Â µî ±¹Á¦ ¼öÁØÀÇ ÀÚü ½ÃÇè °ËÁõ ´É·ÂÀ» ÀÎÁ¤¹Þ°í ÀÖ´Ù.